EP17 OTDR事件測試方法
斜率（Slope）
斜率，或稱光纖的線性衰減（以dB/km為單位），可以透過2點測量法或最小平方（LSA）法來進行測量。最小平方法試圖找到與一組取樣點最相符的測量線。
最小平方法是測量光纖線性衰減最精確的方法，但需要連續的光纖區段、最少數量的OTDR取樣點以及相對乾淨且無雜訊的反射訊號。
斜率（dB/km）的標準偏差取決於以下因素：
- 區域的雜訊強度（和分佈）：局部的雜訊強度以及其分佈對於斜率標準偏差有影響。
- 最小平方法使用的取樣點數量：使用最小平方法的取樣點數量也會影響斜率的標準偏差。
光纖區段的損耗可以以dB或dB/km顯示。典型的光纖損耗範圍如下：
- 1550 nm單模光源：0.17至0.22 dB/km
- 1310 nm單模光源：0.30至0.35 dB/km
- 1300 nm多模光源：0.5至1.5 dB/km
850 nm多模光源：2至3.5 dB/km
事件損耗（Event Loss）
使用手動測量時，有兩種方法來測量事件損耗：2點測量法和5點測量法。
2點測量法（2-Point Method）
對於2點測量法，技術人員將第一個游標放置在事件之前的反射線上，將第二個游標放置在事件之後的反射線上。事件損耗是這兩個游標測量值之間的差異。
這種方法可以用於反射和非反射事件。然而，2點測量法的精確性取決於技術人員將游標放置在正確的位置上的能力，如果軌跡有大量殘留雜訊，精確性可能會受到影響。如果軌跡非常繁雜或脈衝較多，那麼技術人員應該試圖將游標放在軌跡上不位於脈衝頂部或谷底的資料點上。這實際上是對軌跡的視覺平均化。
如果技術人員使用2點測量法來測量點事件，例如機械接續，而不是一段光纖的長度，則技術人員應該注意結果也包括游標之間的任何光纖損耗，因為游標之間的距離是非零的。
5點測量法（5-Point Method）
5點測量法用於測量點事件的目的是減少事件之前和之後光纖範圍的雜訊影響。這是透過對光纖範圍進行最小平方分析來實現的。這個過程最小化了由於游標之間距離非零而產生的附加光纖損耗，即事件損耗。
對於5點測量法，軟體使用五個游標的位置來推論事件之前和之後的光纖資料，並在事件位置進行零距離的損耗測量。這種方法可用於測量非反射和反射事件的損耗。
技術人員首先在軌跡的線性反射強度上獲得事件之前和之後的斜率。第五個測量點被放置在靠近事件的地方，即反射軌跡突然偏離的地方。然後在這個事件位置進行損耗測量。與2點測量法相比，5點測量法更精確，因為OTDR將比較兩個線性反射強度之間的差異。
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