EP14 什麼是 OTDR 波長？
OTDR波長
光學系統的行為與其傳輸波長直接相關。光纖在不同波長下表現出不同的損耗特性。此外，連接頭損耗值在不同波長下也有所不同。一般來說，光纖應使用與傳輸時相同的波長進行測試。因此，多模系統使用850nm和/或1300nm波長，而單模系統則使用1310nm和/或1550nm波長。
如果僅在一個波長進行測試，則必須考慮以下參數：
- 在給定的動態範圍內，使用1550nm的波長會比使用1310nm的波長在同一條光纖上觀察到更遠的距離，這是由於光纖的衰減更低。
- 在1310 nm時35 dB/km的衰減意味著每3公里信號就會損失約1 dB。
- 在1550 nm時2 dB/km的衰減意味著每5公里信號就會損失約1 dB。
- 單模光纖在1550nm時具有比1310nm更大的模態直徑，在1625nm時又比1550 nm更大。較大的模態直徑對於連接頭偏移的側向敏感度較低，但對於安裝或纜線過程中彎曲引起的損耗較為敏感。
- 1550 nm比1310 nm更容易受到光纖彎曲的影響，這被稱為宏彎曲。
- 1310nm通常會比1550nm測量到更高的連接頭和連接器損耗。這些結果來自康寧公司對超過250個連接頭的研究，其中顯示了在色散平移光纖中，1310nm的值通常比1550nm高02 dB。
OTDR是檢測和定位光纖鏈路彎曲的理想工具，如下圖所示。綠色軌跡代表在1310nm下的測量，紫色軌跡代表在1550nm下的測量，紅色軌跡代表在1625nm下的測量。
彎曲效應不是一個新現象。過去，當1550nm波長首次導入並添加到1310nm傳輸波長時，彎曲效應已經被分析。例如，許多光纖報告比較了1550nm連接頭損耗和1310 nm連接頭損耗，以檢測可能的彎曲效應。現在，隨著OTDR技術進入光譜的1625 nm波長區域，必須進行同樣的彎曲效應分析。
何時需要在1625nm波長下進行鏈路測試？
網路並不總是需要在1625nm波長下進行測試。有三種情況需要進行1625nm測試。
1. 現有網路升級：對於將使用或計劃使用L和U波段的DWDM網路升級尤其重要。
2. 安裝新的光纖網路：使用現今的測試工具，與目前的1310/1550nm波長相比，進行1625nm測試所需的額外時間已大幅減少。這促使安裝人員在所有三種波長下進行測試，進而為其網路的未來進行了保護。
3. 故障排除：當其他波長無法辨識問題時，使用1625nm波長進行測試可提供額外的解答並有助於找到問題的來源。
整體來說，儘管在1625nm波長下進行測試不是必要的，但在上述三種情況下需要進行。
服務測試：
這是一種廣泛應用於遠端光纖測試系統（RFTS）和各種類型網路的應用。然而，對於維護目的而言，在網路中存在具有開放埠的耦合器傳統非L波段傳輸或典型PON網路，則可以在1625 nm波長下進行對向傳播測試，而不會干擾1310/1490/1550 nm傳輸。對向傳播測試的範例是在傳輸激光的相反端進行OTDR測量。對於高功率等級的傳輸系統，必須因雷萊散射的影響對測試波長進行補償。