EP15 OTDR測試原理與事件判讀教學

大多數現代OTDR（光時域反射計）在測試時不需要技術人員提供太多的設定，能夠實現完全自動測試。

一般而言，有兩種類型的事件：反射事件和非反射事件。

反射事件

反射事件發生在光纖中不連續性的地方，造成折射率的突然變化。反射事件通常發生在斷裂處、連接器接頭、機械接續或光纖的不確定結束處。對於反射事件，連接器損耗通常約為0.5 dB。然而，對於機械接續而言，損耗通常在0.1 dB至0.2 dB之間。

如果兩個反射事件非常接近，OTDR可能會在測試每個事件的損耗時出現問題。在這種情況下，顯示的是這些事件的綜合損耗。通常發生在測試短光纖長度（例如光纖跳線）時。

在光纖末端的事件，反射事件會結合到末端雜訊，因此不會進行衰減的測試。

光纖末端也可能引起非反射事件。在這種情況下，不會檢測到反射。

非反射事件

非反射事件發生在光纖中沒有不連續性的地方，通常是由熔接或彎曲損耗（例如大角度彎曲）引起的。根據熔接設備和操作人員的不同，預估損耗值範圍從0.02 dB到0.1 dB不等。

對於非反射事件，事件損耗可能顯示為事件增益，在OTDR曲線上呈現一個上升的情況。

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